Press release: Neubau der Physik: Fakultät nimmt erstes neues Großgerät offiziell in Betrieb

Nr. 134/2004 - 12.05.2004

Raster-Elektronenmikroskop eröffnet neuartige Möglichkeiten zur Abbildung von Oberflächen
(pug) Die Göttinger Physik wird in ihrem Neubau an der Tammannstraße am Mittwoch, 19. Mai 2004, ein erstes neues Großgerät offiziell in Betrieb nehmen: Das Raster-Elektronenmikroskop wurde unter der Federführung von Prof. Dr. Konrad Samwer von Wissenschaftlern des I. und des IV. Physikalischen Instituts sowie des Instituts für Materialphysik beantragt; es eröffnet neuartige Möglichkeiten zur Oberflächenabbildung und Probenanalytik. Von der gemeinsamen Nutzung des Gerätes durch unterschiedliche Fachgebiete erwarten die Forscher wichtige Synergieeffekte sowie minimale Anlaufzeiten für den Einsatz in Forschung sowie Ausbildung und Lehre. Dies ist insbesondere von Bedeutung für die Arbeit des Sonderforschungsbereichs „Komplexe Strukturen in kondensierter Materie von atomarer bis mesoskopischer Skala“, so der Dekan der Fakultät für Physik an der Universität Göttingen, Prof. Dr. Helmar Teichler.
„Das mit einer Feldemissionsquelle ausgestattete Mikroskop erlaubt Abbildungen von Oberflächen mit einem Auflösungsvermögen und Detailreichtum, die mit einem konventionellen Gerät aus physikalischen Gründen nicht möglich sind“, erläutert der Materialphysiker Dr. Peter Wilbrandt, der die technische Beratung und wissenschaftliche Koordination der Gerätebeschaffung übernommen hat. Aufbau und Einarbeitung in das neue Großgerät lagen bei Uta Bete vom I. Physikalischen Institut. Das Raster-Elektronenmikroskop ist in einem Speziallabor untergebracht. Ein separates Fundament und eine aufwendige Klimatisierung verhindern Schwingungen und unkontrollierte Probenbewegungen bei den Untersuchungen. Eine spezielle Elektroinstallation sorgt dafür, dass keine elektromagnetischen Störfelder auftreten.
Ein Haupteinsatzgebiet des Mikroskops wird die Charakterisierung von Probenoberflächen sein, deren Struktur beispielsweise durch das Beladen mit Gasen verändert wurde. Außerdem kann durch Analyse von Röntgenstrahlung die Verteilung chemischer Elemente in derartigen Proben bestimmt werden. Dabei erlaubt das neue Gerät durch die Feldemissionsquelle eine deutlich detailliertere Aufzeichnung von Elementverteilungsbildern. Erst die genaue Überprüfung ausgewählter Proben gewährleistet, dass die bei verschiedenen Messungen erzielten Ergebnisse miteinander verglichen werden können. Ein drittes Arbeitsfeld bildet die Elektronenstrahllithographie. Mit dieser Methode können in mikroskopischen Dimensionen Proben und Strukturen mit besonderen physikalischen Eigenschaften erzeugt werden. Bislang waren solche Arbeiten in Göttingen nur im Institut für Röntgenphysik möglich. Mit der Anschaffung eines zweiten Gerätes reagiert die Fakultät auf den wachsenden Bedarf der modernen Physik nach nanostrukturierten Proben.
Hinweis an die Redaktionen:
Der Dekan der Fakultät für Physik, Prof. Dr. Helmar Teichler, wird das neue Raster-Elektronenmikroskop am Mittwoch, 19. Mai 2004, im Neubau an der Tammannstraße 1, Raum B-1.123, offiziell in Betrieb nehmen. An der Veranstaltung, die um 15.00 Uhr beginnt, werden auch alle Antragsteller teilnehmen. Zu Fototermin und Berichterstattung sind Sie herzlich eingeladen.
Kontaktadresse:
Dr. Peter Wilbrandt
Georg-August-Universität Göttingen
Fakultät für Physik
Institut für Materialphysik
Tammannstraße 1, 37077 Göttingen
Telefon (0551) 39-5026, -5002, Fax (0551) 39-5000
e-mail: peter.wilbrandt@physik.uni-goettingen.de
Internet: www.physik.uni-goettingen.de