Project Z02
Z02 High-resolution characterization of interfacesThis project aims to apply and further develop various transmission electron microscopy techniques to gain information on the atomic and electronic structure of interfaces and their modifications after being exposed to external stimuli such as electrical potential, light, gaseous environment, etc. The materials of choice display unique properties due to their ability to adopt crystal structures as a response to external stimuli, thus their initial structure has to be well characterized in order to compare with intermediate and final states. In addition to application of established atomic resolution HRTEM, STEM and EELS to the CRC systems, new methods accessing disorder and electric potentials will be further developed and validated.
Z02 Hochauflösende Charakterisierung von Grenzflächen
Ziel dieses Projektes ist die Anwendung und Weiterentwicklung von verschiedenen Methoden der Transmissionselektronenmikroskopie, um Informationen über die atomare und elektronische Struktur von Grenzflächen und deren Veränderung nach einer elektrischen, optischen oder chemischen Stimulation zu erhalten. Die gewählten Materialien weisen die Fähigkeit auf, Kristallstrukturen als Antwort auf externe Stimulanzen zu adaptieren, was zu einzigartigen Eigenschaften führt. Ihre Struktur muss dazu zu Anfang gut charakterisiert werden, um sie mit den Zwischen- und Endzuständen zu vergleichen. Zusätzlich zur Anwendung etablierter atomar auflösender HRTEM-, STEM- und EELS-Methoden auf SFB-relevante Systeme werden neue Methoden zur Analyse der Unordnung und der Potentiale weiterentwickelt und validiert.